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產品中心熱分析儀DSC-差示掃描量熱儀Chip-DSC 100林賽斯 差示掃描量熱儀
產品簡介：林賽斯 差示掃描量熱儀 Chip-DSC 100融合芯片技術與經典DSC性能，支持高達1000 K/min的超高速升降溫，重現性優異，控溫精準。其一體化芯片傳感器可直接輸出高質量原始數據，無需預處理，更換便捷、成本低。系統可配備96位自動進樣器、多種溫控單元及紫外/拉曼光譜附件，擴展靈活，適用于材料分析與高速差熱檢測。
產品型號：Chip-DSC 100
更新時間：2025-08-27
廠商性質：生產廠家
訪問量：114
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林賽斯 差示掃描量熱儀 Chip-DSC 100（Chip-DSC L66 Ultimate）結合了芯片技術的優勢和常規的 DSC 型號的要求。樣品自動進樣器、紫外附件和拉曼光譜等多種配置選擇使 Chip-DSC 100（Chip-DSC L66 Ultimate）成為一個非常通用的測量設備。
該芯片技術具有高重現性，并且由于質量低，具有出色的溫度控制和高達1000 K/min 的加熱速率，集成傳感器易于更換，成本低。
芯片傳感器的集成設計提供了出色的原始數據，無需對熱流數據進行預處理或后處理即可進行直接分析。Chip-DSC 100（Chip-DSC L66 Ultimate）上的應用可以使用各種附件進行擴展。可以將各種冷卻系統與樣品自動進樣器結合使用，樣品自動進樣器有 96 個位置可供選擇。
| 型號 | Chip-DSC 100 (Chip-DSC L66 Ultimate) * |
| 溫度范圍： | -150 - 600 °C （Peltier 冷卻系統，閉環內置冷卻器，LN2冷卻系統） |
| 加熱 / 冷卻速率： | 0.001 - 1000 K/min |
| 溫度精度： | ±0.2 K |
| 重復性： | ±0.02 K |
| 數字分辨率： | 1680 萬像素 |
| 分辨率： | 0.03 µW |
| 氣氛： | 惰性、氧化（靜態、動態） |
| 測量范圍： | ±2.5 - ±1000 mW |
| 校準材料： | 包含 |
| 校準周期： | 建議每隔 6 個月校準一次 |
| * 規格取決于配置 |
高壓差示掃描量熱儀 HP-DSC：
50 / 150 bar 高壓樣品池可進行 OIT 穩定性測試，監測聚合物、油和油脂的老化情況，可以模擬和優化高壓下的過程，如吸附、化學反應等。
光學 DSC：
Chip-DSC 100 可配備 CCD 攝像機，以便在測量過程中觀察樣品，樣品的可視化可以更深入地了解其相變和分解過程。
照片 DSC：
照片附件可在紫外光下進行測量，用于研究紫外固化系統。由于芯片傳感器的響應時間非常短，因此即使在亞秒級范圍內的快速紫外固化反應也可以進行測量。
拉曼 DSC：
將芯片 DSC 與拉曼光譜儀聯用可以實現非常經濟高效的操作，可以在拉曼光譜中非常準確地檢測出非晶相和結晶相。
DSC 樣品自動進樣器：
樣品自動進樣器最多可容納 96 個樣品，極大地提高了工作效率。該設備可在夜間或周末自動運行，配合直觀的智能軟件，可降低成本，節省時間。
低溫 DSC：
可通過多種冷卻方式實現冷卻：內置冷卻器、液氮冷卻或 Peltier 冷卻系統。亞熱帶氣候條件下的可用溫度范圍可擴展至 -180 °C 。
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